X射线检测图像中缺陷部分的自动提取

• 作者: 程耀瑜 赵熹
• 来源期刊: 无损探伤
• 学科: 工学
• 关键词: X射线检测 低通滤波 减影 形态学
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 科研与生产
• 页码范围: 5-6
• 页数: 2页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 1836字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4423.2008.03.002

摘要

X射线检测图像具有清晰度低、对比度低、缺陷边缘模糊、图像噪声多、存在较大的背景起伏等特点,很难将缺陷部分直接提取出来.本文提出一种基于形态学的缺陷提取方法,能够解决这一难题.首先采用多幅叠加求平均的方法去除噪声,再由原始射线图像出发通过低通滤波技术模拟其背景,通过减影的办法去除背景,最后进行分割并进行形态学处理,提取完整的缺陷部分.实验表明,该方法能够较完整的提取出缺陷部分,把缺陷自动识别的工作向前推进了一大步.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程耀瑜	中北大学电子测试技术国家重点实验室	59	352	9.0	16.0
2	赵熹	中北大学电子测试技术国家重点实验室	11	10	2.0	3.0