一种寻找紧缩场内干扰源的简单方法

• 作者: 何国瑜 马永光
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 紧缩场 干扰源 一维距离成像 天线 雷达散射截面
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 页码范围: 674-677
• 页数: 4页
• 分类号: TN911
• 字数: 2159字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2008.04.015

摘要

紧缩场是进行天线参数测试及目标散射特性测试的场地,其性能影响着目标测量的精度和可靠性.为提高紧缩场的性能,在使用紧缩场前,必须寻找紧缩场内可能存在的对目标测试区产生扰动的干扰源,尽量排除或抑制这些干扰源.基于一维距离成像原理,用画两个椭球面相交和两个球面相交的方法,分别找出紧缩场内存在的影响天线测量和目标雷达散射截面测量的干扰源,采取措施控制这些干扰源对测量的影响.给出了理论仿真计算结果及实验结果,并作了对比分析,验证了此寻找方法既简单又有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何国瑜	北京航空航天大学电子信息工程学院	41	197	11.0	12.0
2	马永光	北京航空航天大学电子信息工程学院	2	7	1.0	2.0