XP过程对软件缺陷影响分析

• 作者: 王晓华 赵明
• 来源期刊: 航天控制
• 学科: 工学
• 关键词: XP过程 软件缺陷 MTBF 缺陷改正率
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性、安全性和维修性
• 页码范围: 79-84
• 页数: 6页
• 分类号: TP311.52
• 字数: 4569字
• 语种: 中文

摘要

XP方法测试驱动和多版本发布的实践,决定了软件产品集成测试也是一个增量迭代的过程.用户使用测试对提高产品的可靠性有重要作用.本文探讨XP测试过程对软件缺陷的影响及其缺陷改正效率的度量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵明	贵州大学可靠性工程中心	33	114	7.0	9.0
2	王晓华	贵州大学可靠性工程中心	12	28	3.0	4.0