基于JTAG的嵌入式调试技术的研究

• 作者: 刘淼 周慧玲 彭德刚
• 来源期刊: 仪表技术
• 学科: 工学
• 关键词: ARM JTAG 嵌入式调试
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 页码范围: 24-26,29
• 页数: 4页
• 分类号: TM930
• 字数: 3568字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2394.2008.03.009

摘要

文章以ARM7TDMI处理器为例,详细分析了JTAG调试嵌入式处理器的工作原理,研究了JTAG下载程序的效率问题,并针对ARM处理器提出了一个具有普遍意义的高效下载程序的算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周慧玲	北京邮电大学自动化学院	24	194	8.0	13.0
2	刘淼	北京邮电大学自动化学院	5	36	2.0	5.0
3	彭德刚	北京邮电大学自动化学院	3	33	2.0	3.0