基于MSP430单片机的晶化监控系统设计与实现

• 作者: 张万宏 王晓兰 王玮冬
• 来源期刊: 工业仪表与自动化装置
• 关键词: 晶化监控 组合自校正 MSP430
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 设计与应用
• 页码范围: 23-25,56
• 页数: 4页
• 分类号: TP368
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0682.2008.06.006

摘要

针对非晶材料晶化过程的电特性,提出了晶化温度控制和电阻率测试的总体设计方案,介绍了监控系统硬件和软件设计,并具体设计了以MSP430单片机为核心的智能温度控制和电阻率测试装置.试验结果表明该系统既提高了控制精度和可靠性,降低了开发成本,又能准确及时地实现非晶材料晶化过程电特性的在线动态研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张万宏	青海大学化工学院	7	5	1.0	2.0
2	王晓兰		3	3	1.0	1.0
3	王玮冬		1	0	0.0	0.0