半导体致冷器件的失效机理与故障检测方法研究

• 作者: 李锦冬
• 来源期刊: 湖北航天科技
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体致冷器 故障 检测 红外热成像
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 35-39
• 页数: 5页
• 分类号: TN949.12
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李锦冬	第二炮兵装备研究院第三研究所	11	21	2.0	4.0