阻性板表面光洁度对RPC性能的影响

• 作者: 姚宁 张飞云 陈静
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: RPC BES-Ⅲ MUON 探测器 性能
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 计量检定与校准测试
• 页码范围: 43-46,49
• 页数: 5页
• 分类号: TL508|TL54+2
• 字数: 3244字
• 语种: 中文

摘要

北京谱仪最外层的MUON探测器采用国际上先进的阻性板计数器(RPC)构成,RPC共有978块,这些RPC的性能是探测器性能的重要保证,针对于此采用每块分析其中重要的3个参量来研究RPC性能,通过改变RPC的物理特性来提高这些参数.实验在分析阻性板表面光洁度对阻性板探测器性能影响的同时,给出了实验结果并加以图形说明,展示了此探测器的良好性能和优良的发展前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚宁	许昌学院电信学院	22	50	4.0	5.0
2	陈静	许昌学院电信学院	26	81	6.0	7.0
3	张飞云	许昌学院电信学院	28	93	4.0	8.0