空间干扰对电容式套管介质损耗因数(tanδ)测量结果影响的分析

• 作者: 张燕涛 王薇 苏煜
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 空间干扰 电容式套管 介质损耗因数 测量
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 经验点滴
• 页码范围: 87,90
• 页数: 2页
• 分类号: TM835.4
• 字数: 1023字
• 语种: 中文

摘要

空间干扰对现场试验中出现的电容式套管介质损耗因数tanδ可造成影响,使其偏小甚至出现负值.针对这一问题,笔者进行了分析研究,并提出了相应的建议:在现场进行电容性套管的介质损耗测量时,必须认真分析空间干扰网络的影响,以防止介质损耗因数的测量误差,保证测量结果的准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张燕涛		11	112	5.0	10.0
2	苏煜		9	67	5.0	8.0
3	王薇		12	74	6.0	8.0