通用嵌入式测控系统开发平台研究

• 作者: 何仁伦 唐华 毛磊
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测控系统 ARM DSP CAN USB
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 计算机与信息技术
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: TP273+.5|TP311.52
• 字数: 2898字
• 语种: 中文

摘要

针对目前工业控制领域应用的嵌入式测控产品大多存在技术落后、通用性差的问题,提出基于ARM和DSP的通用嵌入式测控系统开发平台,将DSP的强大运算能力和新型单片机ARM处理器的强大控制能力结合在一起,能满足大多数中低速嵌人式测控系统的应用要求,由于其良好的通用性,在多个项目应用中均取得了较好的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛磊		2	18	2.0	2.0
2	唐华		2	18	2.0	2.0
3	何仁伦		2	16	1.0	2.0