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EPON ONU芯片的硬件验证与测试平台设计
EPON ONU芯片的硬件验证与测试平台设计
作者:
叶家骏
张俊杰
洪亮
王加
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
以太无源光网络
光网络单元
芯片验证
摘要:
介绍了SHU 2006 ONU芯片的硬件验证与测试平台系统,利用该验证平台实现了SHU 2006 ONU芯片的功能以及TBI高速接口的时序测试.在该验证平台上,100M以太网的FTP数据传输速率可以达到8Mb/s.
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文献信息
篇名
EPON ONU芯片的硬件验证与测试平台设计
来源期刊
光通信技术
学科
工学
关键词
以太无源光网络
光网络单元
芯片验证
年,卷(期)
2008,(3)
所属期刊栏目
器件与测量
研究方向
页码范围
40-42
页数
3页
分类号
TN915
字数
2129字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1002-5561.2008.03.012
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
叶家骏
上海大学特种光纤与光接入网教育部重点实验室
29
223
9.0
14.0
2
张俊杰
上海大学特种光纤与光接入网教育部重点实验室
37
131
6.0
10.0
3
洪亮
上海大学特种光纤与光接入网教育部重点实验室
4
27
3.0
4.0
4
王加
上海大学特种光纤与光接入网教育部重点实验室
2
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2010(1)
引证文献(1)
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2014(1)
引证文献(1)
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研究主题发展历程
节点文献
以太无源光网络
光网络单元
芯片验证
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光通信技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第34研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1002-5561
CN:
45-1160/TN
开本:
大16开
出版地:
广西桂林市5号信箱
邮发代号:
48-126
创刊时间:
1977
语种:
chi
出版文献量(篇)
4439
总下载数(次)
8
总被引数(次)
17658
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