SiO2含量对硼硅酸盐——锂辉石玻璃性能的影响

• 作者: 包启富 董伟霞 顾幸勇
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: SiO2 硼硅酸盐-锂辉石玻璃 低烧 低介
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 工艺与应用
• 页码范围: 48-50
• 页数: 3页
• 分类号: TB756
• 字数: 1966字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8935.2008.03.013

摘要

主要以SiO2含量对硼硅酸盐一锂辉石玻璃性能进行了研究,通过调整配比,得出一种低烧、低介的性能优良的玻璃粉末.当硅含量为80.95(摩尔比)的介电常数ε为4.3,介质损耗tgδ为1×10-3 ,该玻璃的软化温度为665℃.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	顾幸勇		149	765	14.0	21.0
2	董伟霞		180	331	8.0	10.0
3	包启富		152	354	9.0	12.0