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摘要:
非均匀性校正是红外焦平面阵列成像质量提高的关键,在现有一元线性理论模型局限下,红外焦平面阵列成像非均匀性校正难以获得校正精度的提高.本文通过红外焦平面阵列探测器成像机理及其成像过程理论分析,推导了影响探测器响应及其非均匀性的主要因素,首次建立了红外焦平面阵列二元非线性的非均匀性理论模型,通过实验测试及其统计分析验证了理论模型.该模型能在较宽红外辐射和环境温度范围内准确预测红外焦平面阵列响应曲线及其非均匀性,比原一元线性理论模型更全面准确地描述了红外成像非均匀性影响因素及探测器响应关系.
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文献信息
篇名 红外焦平面阵列二元非线性的非均匀性理论模型
来源期刊 电子学报 学科 工学
关键词 红外成像 红外焦平面阵列 非均匀性模型 二元非线性
年,卷(期) 2008,(11) 所属期刊栏目 学术论文
研究方向 页码范围 2150-2153
页数 4页 分类号 TN219
字数 4138字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0372-2112.2008.11.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈钱 南京理工大学电子工程与光电技术学院 248 2662 25.0 37.0
2 屈惠明 南京理工大学电子工程与光电技术学院 22 258 11.0 15.0
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研究主题发展历程
节点文献
红外成像
红外焦平面阵列
非均匀性模型
二元非线性
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子学报
月刊
0372-2112
11-2087/TN
大16开
北京165信箱
2-891
1962
chi
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