基于工程地质勘察的高密度电阻率计算机层析成像技术研究

• 作者: 杨磊
• 来源期刊: 工程地质计算机应用
• 学科: 地球科学
• 关键词: 高密度电阻率 计算机层析成像 勘察
• 年，卷（期）: gcdzjsjyy,（2）
• 页码范围: 23-25
• 页数: 3页
• 分类号: P642

摘要

层析成像方法的应用，使得物探技术变得更加简捷、高效和经济。介绍了高密度电阻率层析成像的基本概念，讨论了该技术的工作机理和操作方法，详细阐述了该技术应用于工程勘察的技术原理与数学依据、操作装置与数据采集、观测仪器与系统控制、数据处理与层析算法、极化方式与参数计算、技术特点与注意事项等，并对高密度电阻率层析成像技术的发展前景做出了有益的探索。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨磊		21	80	6.0	8.0