不规则样品中元素含量XRF测定的校正

• 作者: 张帮 戴振麟 程峰 葛良全 贾牧霖
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: X射线荧光分析 特散比 不规则样品
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 961-964,914
• 页数: 5页
• 分类号: P575.5|O434.12
• 字数: 2462字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2008.05.023

摘要

介绍了当样品的被测底面积不能视为无限大时目标元素含量的测量方法.从理论上说明了特散比R是与样品的被测量底面积无关的参数,通过实验证明特散比法是解决不规则样品中元素含量测量问题的很有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛良全	成都理工大学核技术与自动化工程学院	335	1967	19.0	25.0
2	张帮	成都理工大学核技术与自动化工程学院	4	19	3.0	4.0
3	程峰	成都理工大学核技术与自动化工程学院	6	53	5.0	6.0
4	戴振麟	成都理工大学核技术与自动化工程学院	7	53	4.0	7.0
5	贾牧霖	成都理工大学核技术与自动化工程学院	2	6	1.0	2.0