BESⅢ飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试

• 作者: 刘树彬 吴金杰 孙志嘉 安琪 封常青 衡月昆 赵玉达 郭建华
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 北京谱仪 飞行时间探测器 电子学 时间性能 幅度性能
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 新一代同步辐射技术及应用
• 页码范围: 5-9
• 页数: 5页
• 分类号: O572.21
• 字数: 2754字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2008.01.002

摘要

讨论了北京谱仪(BESIII)飞行时间探测器(TOF)前端电子学的物理需求.因光电倍增管信号为前端电子学实际使用,而以光电倍增管信号作为信号源测试电子学性能是一种方便易行的方法,所以本文采用光电倍增管信号作为信号源测试电子学的性能.测试结果表明现行设计的电子学性能已达到BESⅢ飞行时间探测器对电子学的预期目标.