岩石特性测量技术在测井综合解释中的应用

• 作者: 刘娟 张晓岗 彭琴 杨黎明 王艳青 程红云 胡晓辉
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 薄片分析技术 X射线衍射分析 扫描电镜分析 孔隙结构 测井综合解释
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 工程测试与控制技术
• 页码范围: 113-115
• 页数: 3页
• 分类号: TE662.3|TE19
• 字数: 2065字
• 语种: 中文

摘要

复杂或疑难储层评价中,单纯的测井曲线无法定性或定量评价,通过测井曲线与薄片分析、X射线衍射分析、扫描电镜分析、粒度分析等岩石特性测量技术相结合,借助这些测量技术提供的矿物含量、矿物分布、粒度、分选、孔隙结构等微观信息,可以有效地改善测井曲线分析和地层评价.实践应用也表明,岩性特性测量技术在复杂储层评价中具有很大的应用空间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨黎明		4	6	2.0	2.0
2	张晓岗	中国石化胜利油田分公司地质科学研究院	3	2	1.0	1.0
3	胡晓辉		4	14	2.0	3.0
4	王艳青		1	2	1.0	1.0
5	彭琴		1	2	1.0	1.0
6	程红云		1	2	1.0	1.0