红外测厚技术在超薄薄膜和多层共挤薄膜生产线上的应用

• 作者: 王广彪 程江 董殿会
• 来源期刊: 塑料加工
• 关键词: 红外测厚技术 超薄薄膜 多层共挤薄膜
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 加工与应用
• 页码范围: 45-51
• 页数: 7页
• 语种: 中文

摘要

由于传统的贝它(Beat)技术、伽玛(Gamma)技术和X射线(X-ray)技术,在测量起薄薄膜厚度时技术不完善,更无法测量多层共挤材科中阻隔层的犀度.NDC近红外技术利用不同材料对近红外光具有不同吸收波长的原理,可测量多层共挤材科每一层的厚度;NDC近红外专利技术抑制了光学条纹干涉(OFI)的影响,能高精度、高分辨率、无任何放射性地测量超薄薄膜的厚度.