薄层的二阶功率谱特征研究及厚度预测

• 作者: 周开明
• 来源期刊: 石油物探
• 学科: 地球科学
• 关键词: 二阶功率谱 薄层厚度估算 振幅调谐 陷频周期
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 方法研究
• 页码范围: 30-34
• 页数: 5页
• 分类号: P631.4
• 字数: 2717字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1441.2008.01.004

摘要

常规的薄层厚度估算技术都是基于地震子波为零相位的假设而发展起来的,在非零相位情况下进行估算往往误差较大.为此,从薄层振幅调谐具有周期性陷频谱特征出发,提出了二阶功率谱的概念,从理论上对薄层的二阶功率谱特征进行了研究,建立了薄层厚度与二阶功率谱极大值之间的对应关系,给出了利用二阶功率谱进行薄层厚度预测的理论依据和方法,即根据薄层厚度和二阶功率谱的能量关系制作二阶功率谱图,图上强能量团对应的时间即为薄层时间厚度.楔状模型试验结果表明,通过二阶功率谱进行薄层厚度估算更加直观有效,且不受子波相位的影响,适应能力更强.