电气设备外壳带电原因分析及对策

• 作者: 赵双义
• 来源期刊: 邢台学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: TN-C系统 TN-C-S系统 低压系统 外壳带电 保护接地 保护接零
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 物理·工程·生化
• 页码范围: 106-108
• 页数: 3页
• 分类号: TM50
• 字数: 1896字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-4658.2008.02.042

摘要

通过对现行的低压配电系统中的电气设备外壳带电原因分析,认为在中性点不接地的配电网中,没有采取保护接地措施是设备带电的主要原因;另外,在TN-C系统中误用保护接地、错误的接线、三相负载不平衡、高次谐波的影响以及零线断线都能导致电气设备外壳带电.根据原因分析,给出相应的对策和措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵双义		9	27	3.0	5.0