X射线荧光光谱分析方法测定锰硅合金中钛的质量分数

• 作者: 于桂萍
• 来源期刊: 铁合金
• 学科: 工学
• 关键词: 锰硅合金 光谱分析 钛 质量分数
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 化验与分析
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TF642-34
• 字数: 3182字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1943.2008.04.011

摘要

将一定粒度的粉末试样压制成片状试料后,用VXQ-150A X射线荧光光谱仪进行测试分析,在真空介质中,试片经激发源产生的X射线的X光管照射后,发射出元素组成的特征谱线,分光晶体按照布拉格衍射定律将特征谱线分解成所需要的分析线,分析线的积分强度与含量成正比.