LED芯片在线检测方法研究

• 作者: 尹飞 张鑫 文玉梅 李平 李恋 毋玉芬
• 来源期刊: 传感技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: LED芯片 在线检测 p-n结光生伏特效应 法拉第定律 磁芯
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 传感器应用
• 页码范围: 869-874
• 页数: 6页
• 分类号: TN312
• 字数: 5384字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1699.2008.05.034

摘要

对于封装过程中的LED芯片的检测目前还没有行之有效的方法,基于p-n结的光生伏特效应和法拉第定律,提出一种非接触式的针对LED封装过程中芯片质量及芯片与支架之间连接状态的检测方法.根据实际LED芯片所处的闭合短路状态,感应回路由绕在高磁导率条形磁芯上的多匝线圈构成.磁芯采用不同搭接方式以提高检测的信噪比,根据实验结果确定了磁芯的最佳搭接方式.实验结果表明,该方法具有较高的检测精度,可以实现对闭合短路状态微安量级光生电流的检测.计算结果与实验结果吻合较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	文玉梅	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	147	1964	25.0	34.0
2	李平	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	155	1865	23.0	33.0
3	张鑫	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	13	59	4.0	7.0
4	毋玉芬	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	8	45	4.0	6.0
5	李恋	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	6	40	4.0	6.0
6	尹飞	重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室	7	65	6.0	7.0