某时间引信半爆问题研究

• 作者: 朱艳辉 苌军红
• 来源期刊: 火工品
• 关键词: 时间引信 半爆 故障树 装药密度
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 46-48
• 页数: 3页
• 分类号: TJ450.3+2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-1480.2008.01.013

摘要

针对某药盘时间引信的半爆问题,在分析了该引信结构特点的基础上,采用故障树分析方法对半爆原因逐一进行分析,最终确定导爆药压药密度超上限是引信半爆的原因,并进行了试验验证,验证结果与分析一致.