厚膜用铂银导体性能研究

• 作者: 潘英 董永平
• 来源期刊: 混合微电子技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 厚膜 铂银导体 电迁移 离子迁移
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 页码范围: 15-20
• 页数: 6页
• 分类号: O441.1
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董永平		3	0	0.0	0.0
2	潘英		2	0	0.0	0.0