V777测试系统DA/AD测试技术的研究

• 作者: 孙晓丽 陆强
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 DUT DSP ADC DAC PMU FFT
• 年，卷（期）: 2008,（8）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 13-17
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3093字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2008.08.004

摘要

文章以V777测试系统为平台,用虚拟测试方法和DSP的思想来模拟数模混合测试仪的工作机制,包括激励的产生、响应的采集、数据处理和为DUT提供的测试波形的组合响应处理.利用V777测试系统PMU端口可并行测试的功能获取待测电路AD模块的8位输出,在误差允许范围内匹配其理论对应值.在低频下,利用PMU对DA端口模拟信号的输出进行采样,对采样得到的数据做数字信号算法处理,实现波形的判断.用上述方法以低成本来实现具有一定难度的电路的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆强		2	8	2.0	2.0
2	孙晓丽		1	6	1.0	1.0