X射线衍射取向分布函数分析

• 作者: 史庆南 周世平 谢明 陈亮维 陈南光
• 来源期刊: 物理测试
• 学科: 工学
• 关键词: 织构 取向分布函数 X射线衍射
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 38-42
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.23
• 字数: 3769字
• 语种: 中文

摘要

从应用角度介绍了取向分布函数(ODF)分析的原始数据采集方法、分析原理和图谱解释方法.在ODF分析中需要粉末标样,有许多因素影响ODF分析结果,这些因素包括接收狭缝宽度、管压和管流的大小、光路中的单色器和限高光栏是否使用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	史庆南		170	1539	20.0	31.0
2	周世平		17	218	8.0	14.0
3	谢明		121	599	12.0	18.0
4	陈亮维		27	122	7.0	9.0
8	陈南光		3	18	3.0	3.0