基于USB2.0的通用FLASH存储器检测系统设计

• 作者: 何慧珠 张会新 秦丽
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: NAND Flash USB FPGA 无效块
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 微机、嵌入式系统及相关技术
• 页码范围: 61-64
• 页数: 4页
• 分类号: TP333
• 字数: 2591字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1390.2008.04.016

摘要

本文针对SAMSUNG公司的NAND型Flash提出了一种通用的Flash检测系统的设计方案,此方案同时用于数据采集系统的数据读出.采用FPGA作为主控制器对FLASH进行操作,系统与主机之间采用USB2.0接口芯片CY7C68013实现通信.针对Flash中的无效块问题,本文提出一种Flash坏块的检测处理方案,这种方法也适用于大容量数据采集系统中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张会新	中北大学电子测试技术国家重点实验室	108	556	12.0	18.0
2	秦丽	中北大学电子测试技术国家重点实验室	81	421	11.0	15.0
3	何慧珠	中北大学电子测试技术国家重点实验室	1	8	1.0	1.0