大容量IGBT可靠性的分析

• 作者: 屈维谦 王久和
• 来源期刊: 电气开关
• 学科: 工学
• 关键词: 大容量IGBT 可靠性 标称电流 过载能力 管芯并联 驱动隔离
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TN32
• 字数: 4310字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-289X.2008.04.001

摘要

针对大功率IGBT在变频、斩波调速应用中实际出现的击穿、爆炸的现象,从IGBT的结构、定额、过载能力、管芯结构、模块结构与散热、驱动与隔离入手,结合对IGBT的解剖分析,对IGBT进行了可靠性分析.指出了影响IGBT可靠性的诸多因素,提出了提高IGBT可靠性的措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王久和		109	1430	18.0	36.0
2	屈维谦		4	49	2.0	4.0