原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
嵌入式系统及应用与市场密切关联,其设计受成本、功耗、芯片体积和开发周期等多种因素的制约,嵌入式系统的性能在满足应用需求的条件下,其性能冗余量不宜太大.在产品开发周期内,以尽可能低的原材料成本和开发成本设计具有适当性能的嵌入式系统,是嵌入式系统项目成功的关键.为此,需要对嵌入式微处理器及嵌入式系统的整体性能进行评测和分析,作为嵌入式系统性能设计的依据.介绍嵌入式系统性能测试的基本原理、测试方法,描述多种嵌入式系统性能评测基准及其适用范围.并在此基础上,分析这些嵌入评测基准程序的应用情况,结合当前嵌入式系统级设计过程中需要早期进行性能评估的需要,介绍E3S评测基准及系统级设计评价方法,给出嵌入式计算机设计中测评技术的未来发展趋势.
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文献信息
篇名 用于嵌入式计算机性能评测技术及其方法研究
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 嵌入式计算机 嵌入式系统设计 性能评测 基准程序
年,卷(期) 2008,(14) 所属期刊栏目 嵌入式技术
研究方向 页码范围 49-54
页数 6页 分类号 TP368.1
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-373X.2008.14.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 龚龙庆 25 159 7.0 11.0
2 张海涛 2 13 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
嵌入式计算机
嵌入式系统设计
性能评测
基准程序
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
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