对真空断路器电寿命能力的探讨

• 作者: 和彦淼 宋杲 李炜 李玉春 杨堃
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 真空断路器 真空灭弧室 电寿命 电磨损 短路分断试验
• 年，卷（期）: 2008,（17）
• 所属期刊栏目: 应用与测试
• 页码范围: 53-55
• 页数: 3页
• 分类号: TM561
• 字数: 1869字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2008.17.015

摘要

对真空断路器实际电寿命能力进行了有益的探讨.通过对2002-2006年间约500份真空断路器型式试验报告的分析和1年多合成试验用断路器单极分断情况的跟踪,验证性试验结果表明,就现有制造工艺和技术水平,满容昔电寿命分断次数不能真实反映真空断路器实际的电寿命,真空断路器电寿命极限分断次数的潜力很大.该项研究有助于减少真空断路器使用的浪费.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李炜		24	210	8.0	14.0
2	李玉春		18	62	5.0	7.0
3	宋杲		17	397	11.0	17.0
4	和彦淼		5	77	4.0	5.0
5	杨堃		6	102	4.0	6.0