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摘要:
控制图被广泛用以判定软件过程度量数据的异常点,而软件过程的分析和控制方法目前也只使用了控制图这一种,但使用控制图进行过程分析前我们必须首先采集大量的数据以得出正态分布的参数,这一点使其不适合在数据采集量小、生命周期短、但对度量偏差要求反应及时的软件过程中使用.为了解决这一问题,本文提出使用Q控制图分析和控制软件过程的方法,并指出相较控制图而言,Q控制图更适合用于管理软件过程,并给出具体算法和实例.
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文献信息
篇名 Q控制图分析和控制软件过程的方法研究
来源期刊 计算机系统应用 学科 工学
关键词 Q控制图 软件过程度量 标准正态分布 公共原因偏差 可归属原因偏差
年,卷(期) 2008,(2) 所属期刊栏目 研究开发
研究方向 页码范围 25-31
页数 7页 分类号 TP3
字数 6047字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-3254.2008.02.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周伯生 北京航空航天大学计算机学院 58 644 13.0 24.0
2 朱令娴 北京航空航天大学计算机学院 6 25 4.0 5.0
3 罗文劼 北京航空航天大学计算机学院 8 48 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
Q控制图
软件过程度量
标准正态分布
公共原因偏差
可归属原因偏差
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机系统应用
月刊
1003-3254
11-2854/TP
大16开
北京中关村南四街4号
82-558
1991
chi
出版文献量(篇)
10349
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20
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