电缆半导电屏蔽层中导电离子析出模型分析

• 作者: HI Yong 刘飞 张军 江平开 汪根林 韦平
• 来源期刊: 电线电缆
• 学科: 工学
• 关键词: 电力电缆 半导电屏蔽层 导电离子 扩散
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 线缆材料
• 页码范围: 15-19
• 页数: 5页
• 分类号: TM247
• 字数: 3569字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6901.2008.04.006

摘要

中低压电力电缆主绝缘的水树现象是造成电缆故障的一个很重要的因素,在温度和高电场等外界条件共同作用下,电缆半导电屏蔽层中舍有的游离导电离子析出后在电缆主绝缘表面形成水树现象的起始点.通过对半导电屏蔽试样水煮得到的数据进行分析,建立扩散模型,利用Fick第二扩散方程对该模型进行解析,得到t时刻试样中导电离子的浓度分布并与导电离子的析出试验数据相符.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘飞	上海交通大学化学化工学院	20	155	7.0	11.0
2	张军	上海交通大学化学化工学院上海市电气绝缘与热老化重点实验室	64	420	10.0	18.0
3	江平开	上海交通大学化学化工学院上海市电气绝缘与热老化重点实验室	56	536	12.0	21.0
4	韦平	上海交通大学化学化工学院上海市电气绝缘与热老化重点实验室	22	300	9.0	17.0
5	汪根林	上海交通大学化学化工学院上海市电气绝缘与热老化重点实验室	15	206	6.0	14.0
6	HI Yong	上海交通大学化学化工学院上海市电气绝缘与热老化重点实验室	1	4	1.0	1.0