[210]cub切型弛豫铁电单晶PMN-32PT电畴研究

• 作者: 刘健康 惠增哲 权国新 陈雷 龙伟
• 来源期刊: 自然科学进展
• 学科: 物理学
• 关键词: 铁电单晶 电畴 偏光显微镜
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 研究简讯
• 页码范围: 118-120
• 页数: 3页
• 分类号: O7
• 字数: 1214字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-008X.2008.01.017

摘要

利用偏光显微镜研究了电场对弛豫铁电单晶PMN-32PT电畴组态的影响.结果表明,对于[210]cub切型单晶,当施加的电场强度为0 kV·cm-1时,透明区域呈三方畴形态;当施加电场强度为6 kV·cm-1时,诱导出单斜相;但继续增加电场强度至10 kV·cm-1时,晶体没有呈现单斜相的单畴形态,亦无其他相变;此后,将电场强度减小至5 kV·cm-1时,单斜相消失,说明该单斜相是亚稳态的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘健康	西安工业大学材料与化工学院	5	9	2.0	2.0
2	惠增哲	西安工业大学材料与化工学院	35	73	4.0	5.0
3	龙伟	西安工业大学材料与化工学院	28	53	4.0	5.0
4	陈雷	西安工业大学材料与化工学院	21	69	4.0	7.0
5	权国新	西安工业大学材料与化工学院	2	4	1.0	2.0