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摘要:
缺乏可控制性和可观察性是SOC嵌入式内核测试电路最难解决的问题.本文提出在SOC嵌入式内核测试电路中引入DFT和BIST方法.介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其应用特点,讨论运用重配置的DFT方法和测试点插入的DFT方法来增强混合信号系统的可控制性和可观察性.阐述ADC/DAC与PLL两种电路的BIST技术在SOC嵌入式内核测试的应用.为解决SOC混合信号测试难题提供一种有效的方法.
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文献信息
篇名 SOC混合信号测试难题的解决策略
来源期刊 电子测试 学科 工学
关键词 混合信号 IEEE 1149.4 可测性设计 内建自测试
年,卷(期) 2008,(2) 所属期刊栏目 测试工具与解决方案
研究方向 页码范围 69-72
页数 4页 分类号 TN407
字数 2382字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8519.2008.02.017
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1 谭永红 8 46 3.0 6.0
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2008(1)
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研究主题发展历程
节点文献
混合信号
IEEE 1149.4
可测性设计
内建自测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
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