SOC混合信号测试难题的解决策略

• 作者: 谭永红
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 混合信号 IEEE 1149.4 可测性设计 内建自测试
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 69-72
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2382字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2008.02.017

摘要

缺乏可控制性和可观察性是SOC嵌入式内核测试电路最难解决的问题.本文提出在SOC嵌入式内核测试电路中引入DFT和BIST方法.介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其应用特点,讨论运用重配置的DFT方法和测试点插入的DFT方法来增强混合信号系统的可控制性和可观察性.阐述ADC/DAC与PLL两种电路的BIST技术在SOC嵌入式内核测试的应用.为解决SOC混合信号测试难题提供一种有效的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭永红		8	46	3.0	6.0