程序实现CMOS内存数据的保存和恢复

• 作者: 房鼎益 杨战海
• 来源期刊: 国外电子元器件
• 学科: 工学
• 关键词: 计算机 内存储器/金属氧化物半导体 保存 恢复
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 嵌入式系统
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 分类号: TP311
• 字数: 1599字
• 语种: 中文

摘要

在系统后备电池失效,病毒破坏了CMOS数据程序,意外清除了CMOS参教等情况下,常常会造成CMOS数据的意外丢失,因此保存CMOS内容并在必要时重新恢复是维护计算机的重要环节.基于实践需求,程序实现了CMOS内存数据的保存和恢复,程序使用方便,管理效果显著.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨战海	西北大学信息科学与技术学院	26	56	3.0	7.0
3	房鼎益	西北大学信息科学与技术学院	124	1289	16.0	31.0