掺钇(Ba,Ca)(Ti,Zr)O3电容器陶瓷抗还原性的研究

• 作者: 曾冲盛 滕元成 陈堃 齐晓敏
• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 钛酸钡 抗还原性 钇 介电性能
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 粉体加工与处理
• 页码范围: 39-41,49
• 页数: 4页
• 分类号: TM223|TM534
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-5548.2008.02.012

摘要

对掺钇的(Ba,Ca)(Ti,Zr)O3(BCTZ)电容器陶瓷进行了抗还原性研究,研究了不同摩尔分数的钇的掺杂对BCTZ电容器陶瓷的介电性能、显微结构和密度的影响.结果表明,随着Y2O3掺杂量的增加,BCTZ陶瓷的室温介电常数、介质损耗逐渐减小,居里温度向低温方向移动,同时绝缘电阻率升高,BCTZ陶瓷抗还原性能提高;Y2O3的掺入能够促进BCTZ陶瓷的致密化,并有利于抑制BCTZ陶瓷的晶粒生长.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	滕元成	西南科技大学先进建筑材料四川省重点实验室	61	475	11.0	18.0
2	曾冲盛	西南科技大学先进建筑材料四川省重点实验室	9	70	6.0	8.0
3	齐晓敏	西南科技大学先进建筑材料四川省重点实验室	7	52	5.0	7.0
4	陈堃	西南科技大学先进建筑材料四川省重点实验室	7	52	5.0	7.0