微分测深装置视电阻率异常研究

• 作者: 吕玉增 阮百尧 韦柳椰
• 来源期刊: 物探化探计算技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: 微分测深 二维 三维 电测深曲线 视电阻率断面
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 电和电磁法勘探
• 页码范围: 66-70
• 页数: 5页
• 分类号: P631.3+22
• 字数: 1810字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1749.2008.01.015

摘要

微分测深以其独特的工作方式,较好的场地适应能力而广泛应用于工程地质勘察中.这里针对微分测深的工作方式,研究了供电电极AB距离大小对测深曲线的典型影响,并在此基础上,计算和对比分析了二维、三维地质构造不同测点的电测深曲线和视电阻率异常的主要特征,为微分测深的实际工作提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阮百尧		75	2161	25.0	44.0
2	吕玉增	中南大学信息物理工程学院	11	251	6.0	11.0
6	韦柳椰		4	43	2.0	4.0