应用红外碳硫仪测定碳化硅中S含量

• 作者: 廖红梅
• 来源期刊: 福建分析测试
• 学科: 化学
• 关键词: 高频红外碳硫吸收法 碳化硅 硫含量
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 48-50
• 页数: 3页
• 分类号: O657.33
• 字数: 2495字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-8143.2008.04.013

摘要

介绍了应用高频红外碳硫仪测定碳化硅中的S含量.探讨了锡粒、纯铁、钨粒作为助熔剂的用量,并以生产用碳化硅经定值作为校准样品校正仪器.本方法的相对标准偏差RSD<1%(n=6).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖红梅	福建三钢集团有限公司质量计量部	2	8	1.0	2.0