多元红外探测器综合性能参数自动测试系统

• 作者: 孙维国 张广军 樊巧云 郭云芝 魏振忠
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外探测器 自动测试 微弱信号
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 系统与设计
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TN215
• 字数: 2188字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2008.01.001

摘要

针对多元红外探测器过程质量控制和批量检测需求,研究开发了一套多元红外探测器综合性能参数自动测试系统,系统整体噪声水平<2mV,通道增益一致性优于1.60%,实现了动态阻抗、探测率、电压/电流响应率、I-V曲线、启动时间、续冷时间、元间均匀性等参数的全自动测试.针对某型号探测器的测量实验表明,该测试系统具有较好的测量精度和稳定性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张广军	北京航空航天大学精密光机电一体化技术教育部重点实验室	211	4051	34.0	53.0
2	魏振忠	北京航空航天大学精密光机电一体化技术教育部重点实验室	58	1051	18.0	31.0
3	樊巧云	北京航空航天大学精密光机电一体化技术教育部重点实验室	19	153	9.0	12.0
4	孙维国		20	99	5.0	8.0
5	郭云芝		6	13	2.0	3.0