基于噪声奇异性的光耦器件爆裂噪声检测新法

• 作者: 王党会 谢端 赵健 郭秀梅
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光耦器件 爆裂噪声 光耦噪声筛选 噪声奇异性
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与设备
• 页码范围: 404-408
• 页数: 5页
• 分类号: TN306|TN36
• 字数: 3129字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2008.05.011

摘要

为了准确客观地检测出爆裂噪声的存在,提出了基于噪声信号奇异性的光耦器件爆裂噪声检测方法.通过对光耦器件噪声样本的计算发现,含有大量爆裂噪声的样本,其平均H(o)lder指数接近于0,反映到局部奇异性指数分布直方图中,其最可几率所对应的h值也在0值附近.而不合爆裂噪声的样本平均H(o)lder指数则在-0.3附近.实验证实了奇异性检测方法可以明晰地区分良品组与次品组光耦器件.噪声奇异性参数可以作为爆裂噪声是否存在的客观依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵健	西北大学信息科学与技术学院	51	302	10.0	14.0
2	王党会	西安石油大学材料科学与工程学院	39	70	5.0	6.0
3	谢端	西安邮电学院计算机科学与技术系	8	11	2.0	3.0
4	郭秀梅	西北大学信息科学与技术学院	10	18	3.0	4.0