一种快速检测CuCr触头密度的方法探讨

• 作者: 黄国伟
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: CuCr触头 密度 电导率 无损检测
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 测试·装备·应用
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: TM206
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-8887.2008.02.011

摘要

试验并探讨了CuCr触头材料密度与电导率之间的关系,分析了影响CuCr触头材料密度的各种因素,找出了一种无须破坏产品的检测CuCr触头材料密度的方法,即,通过测试CuCr触头材料的电导率来确定材料的密度,从而确保产品质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄国伟		1	0	0.0	0.0