数字IC边界扫描互连故障诊断新方法

• 作者: 倪军 周晓霞 成立 植万江 王振宇
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: JTAG标准 边界扫描结构 互连故障诊断 无误判抗混淆算法
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与设备
• 页码范围: 1100-1104
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3987字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2008.12.014

摘要

介绍了支持JTAG标准的数字集成电路(IC)芯片结构、故障测试模式和运用边界扫描故障测试的原理.实验中分析了数字IC互连故障类型、一般故障诊断流程和互连故障的测试方法,提出了采用无误判抗混淆算法的IC边界扫描互连故障诊断法.通过两块Xilinx 9572 pc84芯片互连电路板进行了实验验证,结果表明,该方法对板级互连故障测试具有定位准确、检测效率高、可靠性高及易于实现的技术优势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	成立	江苏大学电气信患工程学院	168	1567	21.0	32.0
2	王振宇	江苏大学电气信患工程学院	81	628	15.0	21.0
3	倪军	江苏大学生物机电工程研究院	11	193	8.0	11.0
4	植万江	江苏大学电气信患工程学院	10	15	2.0	3.0
5	周晓霞	江苏大学电气信患工程学院	5	18	2.0	4.0