高压对LDLT5450岩性密度测井仪Pe值刻度的影响

• 作者: 王悦欣 解琪 郑福荣 郭广鎏 骆庆锋
• 来源期刊: 测井技术
• 关键词: 岩性密度测井仪 高压 光电吸收指数 刻度
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 测井仪器
• 页码范围: 80-82
• 页数: 3页
• 分类号: P631.63
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1338.2008.01.022

摘要

LDLT5450岩性密度测井仪是EILog-05测井系统中的重要井下仪器之一.用三角形近似伽马能谱分析了光电倍增管高压对岩性窗(LITH)和密度窗(LL、LU)计数影响的差别,得到了Pe测量值会随高压增加而增加的认识.仪器在刻度器上的测量结果验证了此认识,并表明应注意高压对Pe值的刻度参数的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	解琪		6	10	2.0	2.0
2	骆庆锋		10	23	3.0	4.0
3	郭广鎏		5	10	2.0	3.0
4	郑福荣		3	5	2.0	2.0
5	王悦欣		2	18	2.0	2.0