双极运算放大器辐射损伤效应研究

• 作者: 任迪远 孙静 文林 王改丽 郑玉展 陆妩
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 双极运算放大器 60Coγ辐射 辐射效应 增强因子
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 270-274
• 页数: 5页
• 分类号: TN432|TN722
• 字数: 4212字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2008.04.007

摘要

本文研究了不同制造商的同型号双极运算放大器的辐射效应和室温退火行为,发现同型号产品的辐射效应有很大差异.我们分析了此类辐射效应差异的主要原因,对双极运算放大器高低剂量率下的辐射效应作了解释.计算了它们的损伤增强因子和退火因子,结果表明,同种型号运放电路的损伤增强因子间的最大差异可达约8倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆妩	中国科学院新疆理化技术研究所	42	320	11.0	16.0
2	孙静	新疆大学物理学院	9	27	3.0	5.0
3	任迪远	中国科学院新疆理化技术研究所	59	375	11.0	16.0
4	郑玉展	中国科学院新疆理化技术研究所	6	66	4.0	6.0
8	王改丽	中国科学院新疆理化技术研究所	3	23	3.0	3.0
12	文林	新疆大学物理学院	3	19	2.0	3.0