最新最强大的ZETA电位仪强劲登陆中国

• 来源期刊: 中国粉体工业
• 学科: 工学
• 关键词: 电位仪 ZETA电位 光子相关光谱法 粒度分析仪 中国 NANO 高浓度样品 专利技术
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 52
• 页数: 1页
• 分类号: TS77

摘要

美国贝克曼库尔特公司隆重推出的Delsa Nano系列Zeta电位及粒度分析仪，应用PCS光子相关光谱法以及最新FST专利技术，是一款新型的具有极高的动态测量范围的多用途的测量仪。不但拥有独家的固体表面Zeta电位分析功能，同时拥有独一无二的可进行高浓度样品的Zeta电位测量功能。完全符合ISO22412国际标准的Delsa Nano系列为目前功能最强大的Zeta电位纳米粒度分析仪。