智能电路板自动测试研究

• 作者: 刘瑜杰 谭业双
• 来源期刊: 仪表技术
• 学科: 工学
• 关键词: 智能电路板 VXI总线 自动测试
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 页码范围: 63-65
• 页数: 3页
• 分类号: TP273
• 字数: 3634字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2394.2008.12.024

摘要

在分析了智能电路板测试中面临的问题后,针对电路板上各电路结构提出相应的测试方案;并以VXI总线技术为例,给出智能电路板自动测试系统的基本体系结构.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭业双		32	192	7.0	12.0
2	刘瑜杰		2	10	2.0	2.0