B样条曲面拟合在Mura缺陷获取中的应用

• 作者: 唐剑 李新国 梁珂 王大巍 董友梅 闫亮
• 来源期刊: 现代显示
• 学科: 工学
• 关键词: Mura TFT-LCD 曲面拟合 B样条
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 24-28
• 页数: 5页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 3471字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-6268.2008.06.005

摘要

TFT-LCD Mura缺陷表现为对比度低、亮度区域不均匀、边界模糊,通常大于一个像素,会给观察者带来视觉不适,是一种比较常见的缺陷.长期以来.对Mura缺陷的检测都是由经过训练的专业检验员完成.近年来,研究人员开始研究利用机器来代替人眼检测,但机器如何获取Mura缺陷一直是行业内公认的难题之一.本文提出了基于B样条曲面拟和的方法来获取Mura缺陷信息,并通过对大量真实Mura缺陷样本的检测验证了该方法具有高的获取准确率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李新国		6	11	1.0	3.0
2	王大巍		2	26	2.0	2.0
3	唐剑		1	11	1.0	1.0
7	梁珂		1	11	1.0	1.0
8	闫亮		1	11	1.0	1.0
9	董友梅		1	11	1.0	1.0