红绿彩瓷化妆土的线扫描分析

• 作者: 何伟 华巍 徐伟 朱剑 杨益民 汪丽华 王昌燧 阎焰 陈栋梁 黄宇营
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 历史
• 关键词: SRXRF 红绿彩瓷 化妆土 线扫描分析
• 年，卷（期）: 2008,（9）
• 所属期刊栏目: 新一代同步辐射技术及应用
• 页码范围: 653-657
• 页数: 5页
• 分类号: K876.3
• 字数: 3376字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2008.09.003

摘要

采用同步辐射X射线荧光分析方法(SRXRF),对宋金时期红绿彩瓷的断面进行线扫描分析,发现在釉和化妆土以及化妆土和胎的交界处,均存在明显的过渡层.不同元素在两个过渡层的变化规律不完全一致,与釉、化妆土及胎的原料密切相关,据此可判断瓷器是否施加过化妆土.化妆土中Fe、Ti含量明显低于胎,有利于提高瓷釉的白度和质量.结合岩相分析发现化妆土中富含云母类矿物,这将加强白色反射效果.该类化妆土在已往的白瓷化妆土中均未见报道,值得进一步研究.