提高模块级的验证质量的方法学研究

• 作者: 张晓静 董伟杰
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 验证计划 验证质量 覆盖率驱动 ARM_UART
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 6-8,16
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2106字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2008.05.002

摘要

验证工作中验证计划对于整个ASIC设计工作起到十分重要的作用,模块级验证质量是通过覆盖率分析进行验证质量评估.本文对TD-SCDMA终端芯片的ARM_UART模块的多种覆盖率进行了详细的分析,通过分析覆盖率得出的数据再次进行验证,直到验证的完整性满足设计者的要求.模块覆盖率是否达到验证计划的要求,可以作为判断验证工作质量的依据,所以针对模块级的芯片验证工作是以多种覆盖率为驱动的验证分析对象的,提高模块级验证质量方法是以覆盖率驱动技术为验证技术支持的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董伟杰		3	15	2.0	3.0
2	张晓静		7	12	2.0	3.0