纳米膜厚的量值溯源初探

• 作者: 卢明臻 崔建军 施玉书 杜华 高思田
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 X射线衍射 纳米膜厚 纳米计量 量值溯源 计量型原子力显微镜 纳米标准
• 年，卷（期）: 2008,（z1）
• 所属期刊栏目: 溯源技术和新仪器的研制
• 页码范围: 160-163
• 页数: 4页
• 分类号: TB921
• 字数: 3209字
• 语种: 中文

摘要

概述当前国内外纳米材料结构膜厚参数的计量现状,针对我国目前纳米膜厚尚未建立计量溯源体系,提出一种可实现纳米膜厚的量值溯源的途径.首先选择X射线衍射仪(XRD)作为纳米膜厚的计量标准装置,再研制带有台阶的膜厚校准样板,样板经过计量型原子力显微镜检定后,可以校准XRD,从而实现纳米膜厚的量值溯源.还对纳米膜厚校准样板的研制和XRD的计量性能进行初步探讨,为建立我国纳米膜厚测量标准和纳米膜厚测量方法标准化提供技术准备.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高思田		93	567	11.0	19.0
2	崔建军		33	122	6.0	8.0
3	卢明臻		16	97	6.0	8.0
4	杜华		33	201	8.0	12.0
5	施玉书		35	121	5.0	8.0