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摘要:
从ZnO晶体结构入手,介绍了ZnO薄膜制备工艺的研究现状与进展,包括基片的选择,缓冲层的影响,薄膜极性的控制与制备技术.并指出基片的选择、薄膜的成核生长过程与界面问题仍是今后研究的重点.
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文献信息
篇名 ZnO薄膜制备工艺的研究进展
来源期刊 电子元件与材料 学科 物理学
关键词 电子技术 ZnO薄膜 综述 制备工艺 表面形貌 微观结构
年,卷(期) 2008,(8) 所属期刊栏目 综述
研究方向 页码范围 9-12
页数 4页 分类号 O484.1
字数 4584字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2008.08.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 马越雷 2 7 2.0 2.0
2 赵汝明 1 5 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
电子技术
ZnO薄膜
综述
制备工艺
表面形貌
微观结构
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
出版文献量(篇)
5158
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16
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31758
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